Mujiken+

Mujiken+

개요

무지 웹 생산의 새로운 솔루션

초고속 흑백 카메라와 화상 처리 엔진.
그리고 시스템과 사용자를 이어주는 소프트웨어.
니레코는 산업계의 검사 부문에서 많은 실적을 쌓아왔습니다. 업계 최고 레벨의 무지 표면 품질 검사 시스템 Mujiken+는 니레코가 제안하는 새로운 솔루션입니다.

Mujiken+ 의 새로운 특징

  • 보다 고속화된 화상 처리 기능

    • 검사 전용 고속 처리 기판의 하드웨어화에 의해 기존대비 약 2배의 화상 처리를 실현
    • 정확한 길이측정을 실현 가능하게 하는 “라벨링 기능”을 강화
    • 얼룩이나 노이즈를 보정하는 “음영 보정 기능” “필터 기능”을 강화
  • 새로운 검사 두뇌 알고리즘의 추가

    • 얼룩, 오염, 가로줄과 같이 검출이 어려운 결점을 대상으로 개발된 “오염”, “가로줄” 검사 회로를 새롭게 추가
    • 스트리크 강조 처리에 의한 세로줄 검출 회로를 더욱 더 강화
  • 대응 카메라의 충실화, 광학계의 진화

    • 초고속 흑백 카메라 640MHz, 320MHz(10비트)에도 대응해 처리 속도 두배
    • 컬러 카메라를 새롭게 라인업
    • LED 조명 뿐만 아니라, 근적외선, 자외선 등의 특수 조명과의 조합이 가능

    이들 광학계의 진화에 의해 보이지 않는 결점의 가시화 등 대응 범위가 확대되어출 능력이 대폭 향상

  • OS를 리뉴얼

    • Windows7 Embedded로 리뉴얼. 고속 데이터 처리를 실현
    • 광통신 채용에 의해 하드웨어 설계의 대폭적인 간소화를 실현. 이에 따라 PC의 신뢰성이 급격하게 향상
  • 트윈・모니터 대응을 실현

    • 외부 모니터 증설에 의해 결점 화상의 확대 표시가 가능
    • 운영자 감시 장소에 설치해 이상 결점을 조기 발견

검사 예

신속한 데이터 분석을 실현

고기능 필름은 물론, 일반 필름, 종이, 호일 등, 검출이 곤란했던 무지 소재의 결점을 고정밀도로 추출합니다.
고속 촬영된 흑백 화상을 독자적인 알고리즘 연산 처리를 실시해 결점 부분을 나타냅니다.
결점부에는 라벨이 붙여져 다음 공정으로의 결함 납품을 미연에 방지할 수가 있습니다.

Speedy data analysis

결점 검사 화면

Defect inspection screen
결점 검사 화면
Defect inspection screens2

통계 분석에 의한 그룹화

Grouping by statistical analysis

트윈・모니터 대응을 실현

Twin monitors supported

시스템 구성도

Component of Mujiken+

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