NIR 스펙트럼 분석기 A8850
개요
이 근적외선(NIR) 스펙트럼 분석기는 40년 이상의 축적된 판매 경험을 바탕으로 개발되었습니다. 실험 분석에 필요한 기능을 제공하며, 독자 기술로 완성되었습니다. 실험실의 다양한 측정 요구 사항을 충족하는 샘플링 시스템과 같은 다양한 기능은 우수한 비용 성능과 최고 수준의 성능을 제공합니다. 대형 회절 격자가 있는 와이드 스캔 흑백 미터는 400~2500nm의 파장 범위에서 고품질 분광 측정을 가능하게 합니다. 또 샘플 박스내에는 XY가동의 다목적 스테이지를 갖추어 스펙트럼 측정과 연동한 유연한 측정법을 실현합니다.
특징
고성능, 높은 기기 호환성 및 다목적 애플리케이션
스폿 사이즈 조정 기구
측정 방법에 맞게 최적의 스폿 크기(입사광 영역)를 조정할 수 있습니다.
격자 최적화 제어
왕복 스캐닝을 채택하여 초당 2스캔의 높은 스캐닝 속도를 달성합니다.
대형 회절 격자
대형 회절 격자를 사용하여 노이즈가 적은 고품질 스펙트럼을 제공합니다.
기기 보정 기능
NIST 표준을 사용한 보정 기능이 탑재되어 있습니다.
기기 간 높은 호환성
기기 간 높은 호환성을 제공합니다. 자체 개발한 보정 곡선은 최소한의 보정을 통해 동일한 모델에서 사용할 수 있습니다.
와이드 스캔 흑백 미터
우리는 가시광선 범위의 400nm에서 근적외선의 2500nm까지 광범위한 파장을 분리하는 흑백 미터를 개발했습니다.
자체 개발 제품
당사는 모든 제품을 일본에서 직접 설계, 개발 및 제조하며, 한국 자회사를 통한 포괄적인 고객 지원 시스템을 제공하므로 안심하고 사용할 수 있습니다.
광역 측정에 최적화된 디텍터 배치
총 8Si(실리콘) 및 PbS(황화납) 원소가 원 둘레에 배열되어 광범위한 확산 반사광을 높은 신뢰도로 검출할 수 있습니다.
다목적 측정용 스테이지
XY 스테이지는 당신이 상상 가능한 모든 방법으로 활용할 수 있습니다. 표준으로 제공됩니다.
명세서
| 파장 범위 | 400-2500nm |
|---|---|
| 측광 범위 | 2.0AU |
| 0 Abs에서 소음(RMS) | 400-700nm ＜50μAbs 700-2500nm ＜30μAbs |
| 데이터 간격 | 0.5nm |
| 스캔 속도 | 2 스캔/초 |
| 탐지기 | 400-1100nm Si(실리콘) 1100-2500nm PbS(황화납) |
| 전원 입력 | S단상 AC 90V-264V 50/60Hz |
| 전력 소비 | 최대 200W |
| 본체 치수 | W 410mm × H 400mm × D 620mm |
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